Refractive index dispersion measurement using carrier-envelope phasemeters

GND
1330976614
Zugehörigkeit
Institute of Optics and Quantum Electronics, Friedrich Schiller University , Max-Wien-Platz 1, D-07743 Jena,Germany
Hansinger, Peter;
GND
1330982622
Zugehörigkeit
Institute of Optics and Quantum Electronics, Friedrich Schiller University , Max-Wien-Platz 1, D-07743 Jena,Germany
Töpfer, Philipp;
Zugehörigkeit
Department of Quantum Electronics, Sofia University , 5, J. Bourchier Blvd., Sofia-1164,Bulgaria
Dimitrov, Nikolay;
GND
1330403312
Zugehörigkeit
Institute of Optics and Quantum Electronics, Friedrich Schiller University , Max-Wien-Platz 1, D-07743 Jena,Germany
Adolph, Daniel;
GND
1191930343
Zugehörigkeit
Institute of Optics and Quantum Electronics, Friedrich Schiller University , Max-Wien-Platz 1, D-07743 Jena,Germany
Hoff, Dominik;
GND
1044410647
Zugehörigkeit
Institute of Optics and Quantum Electronics, Friedrich Schiller University , Max-Wien-Platz 1, D-07743 Jena,Germany
Rathje, Tim;
GND
1330403479
Zugehörigkeit
Institute of Optics and Quantum Electronics, Friedrich Schiller University , Max-Wien-Platz 1, D-07743 Jena,Germany
Sayler, A Max;
Zugehörigkeit
Department of Quantum Electronics, Sofia University , 5, J. Bourchier Blvd., Sofia-1164,Bulgaria
Dreischuh, Alexander;
GND
114845389X
Zugehörigkeit
Institute of Optics and Quantum Electronics, Friedrich Schiller University , Max-Wien-Platz 1, D-07743 Jena,Germany
Paulus, Gerhard G

We introduce a novel method for direct and accurate measurement of refractive index dispersion based on carrier-envelope phase detection of few-cycle laser pulses, exploiting the difference between phase and group velocity in a dispersive medium. In a layout similar to an interferometer, two carrier-envelope phasemeters are capable of measuring the dispersion of a transparent or reflective sample, where one phasemeter serves as the reference and the other records the influence of the sample. Here we report on proof-of-principle measurements that already reach relative uncertainties of a few 10 −4 . Further development is expected to allow for unprecedented precision.

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