Coupled defect level recombination in the P-N junction

Einordnung

Erschienen in:

Journal of electrical engineering
Bd. 62, H. 6 (11.2011), S. 355-358

Band:

62

Heft:

6

Datum der Erstellung:

01.06.2023

Datum der Veröffentlichung:

11.2011

DOI:

10.2478/v10187-011-0056-5

PPN:

684727501

Sprache:

Englisch

Ressourcentyp:

Text

Umfang:

4 Seiten

DDC-Sachgruppe der DNB:

620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau

Einrichtung:

Technische Universität Ilmenau, Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik