Characterisation of ion bunches by a single-pass non-destructive charge counter

Zugehörigkeit
Friedrich-Schiller-Universität Jena ,07743 Jena ,Germany
Kiffer, M;
GND
1212616073
Zugehörigkeit
Friedrich-Schiller-Universität Jena ,07743 Jena ,Germany
Ringleb, S;
GND
1247637522
ORCID
0000-0003-0588-4207
Zugehörigkeit
Friedrich-Schiller-Universität Jena ,07743 Jena ,Germany
Stallkamp, N;
Zugehörigkeit
Inter-University Accelerator Centre ,110067 New Delhi ,India
Kumar, S;
Zugehörigkeit
Goethe Universität Frankfurt ,60323 Frankfurt ,Germany
Arndt, B;
Zugehörigkeit
GSI Helmholtzzentrum für Schwerionenforschung ,64291 Darmstadt ,Germany
Vogel, M;
Zugehörigkeit
Physikalisches Institut, Ruprecht Karls-Universität Heidelberg ,69120 Heidelberg ,Germany
Quint, W;
GND
1156630649
ORCID
0000-0003-0461-3560
Zugehörigkeit
Friedrich-Schiller-Universität Jena ,07743 Jena ,Germany
Stöhlker, Th

Synopsis We present non-destructive single-pass ion bunch detection and characterisation by measuring the induced image charge in a detection electrode. The presented technique allows direct determination of ion kinetic energy, absolute ion number and spatial ion bunch length. We will show the results of corresponding measurements with bunches of low-energy highly charged ions and discuss the minimum detectable number of charges.

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