- Artikel / Aufsatz
- Single Femtosecond Laser-Pulse-Induced Superficial Amorphization and Re-Crystallization…
Single Femtosecond Laser-Pulse-Induced Superficial Amorphization and Re-Crystallization of Silicon
- ORCID
- 0000-0001-5632-0562
- Zugehörigkeit
- Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM), Unter den Eichen 87, D-12205 Berlin, Germany, camilo.florian@princeton.edu
- Zugehörigkeit
- Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM), Unter den Eichen 87, D-12205 Berlin, Germany, daniel.fischer@rfischergmbh.de
- GND
- 1311072837
- Zugehörigkeit
- Otto-Schott-Institut für Materialforschung (OSIM), Lehrstuhl für Metallische Werkstoffe, Friedrich-Schiller-Universität Jena, D-07743 Jena, Germany, katharina.freiberg@uni-jena.de
- Zugehörigkeit
- Accurion GmbH, Stresemannstraße 30, D-37079 Göttingen, Germany, mdu@accurion.com
- Zugehörigkeit
- Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM), Unter den Eichen 87, D-12205 Berlin, Germany, mario.sahre@bam.de
- Zugehörigkeit
- Accurion GmbH, Stresemannstraße 30, D-37079 Göttingen, Germany, st@accurion.com
- ORCID
- 0000-0002-1380-0109
- Zugehörigkeit
- Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM), Unter den Eichen 87, D-12205 Berlin, Germany, andreas.hertwig@bam.de
- ORCID
- 0000-0003-2632-9448
- Zugehörigkeit
- Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM), Unter den Eichen 87, D-12205 Berlin, Germany, joerg.krueger@bam.de
- GND
- 1191795233
- Zugehörigkeit
- Otto-Schott-Institut für Materialforschung (OSIM), Lehrstuhl für Metallische Werkstoffe, Friedrich-Schiller-Universität Jena, D-07743 Jena, Germany, m.rettenmayr@uni-jena.de
- Zugehörigkeit
- Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM), Unter den Eichen 87, D-12205 Berlin, Germany, uwe.beck@bam.de
- Zugehörigkeit
- Institut für Werkstoffwissenschaft und Werkstofftechnik (IWW), Technische Universität Chemnitz, Erfenschlager Straße 73, D-09125 Chemnitz, Germany, andreas.undisz@mb.tu-chemnitz.de
- ORCID
- 0000-0003-4984-3896
- Zugehörigkeit
- Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM), Unter den Eichen 87, D-12205 Berlin, Germany, joern.bonse@bam.de
Vorschau
Einordnung
- Erschienen in:
-
Materials / Molecular Diversity Preservation International
Bd. 14, H. 7 (27.03.2021)Art.-Nr.:1651 - Band:
- 14
- Heft:
- 7
- Datum der Veröffentlichung:
- 27.03.2021
- URN:
- urn:nbn:de:gbv:27-dbt-20210913-102529-008
- DOI:
- 10.3390/ma14071651
- Sprache:
- Englisch
- Ressourcentyp:
- Text
- Umfang:
- 21 Seiten
- Schlagwörter:
- femtosecond laser; silicon; amorphization; crystallization; spectroscopic imaging ellipsometry; transmission electron microscopy; atomic force microscopy
- DDC-Sachgruppe der DNB:
- 600 Technik
- Einrichtung:
- Friedrich-Schiller-Universität Jena, Physikalisch-Astronomische Fakultät
- Anmerkung:
- Zweitveröffentlichung
Zitieren
Zitierform:
Zitierform konnte nicht geladen werden.
10.3390/ma14071651
Zitier-Link kopieren
Zitier-Link kopieren
URN (urn:nbn:de:gbv:27-dbt-20210913-102529-008)
DOI (10.3390/ma14071651)
Rechte
Rechteinhaber: © 1996-2021 MDPI (Basel, Switzerland)
Nutzung und Vervielfältigung:
